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功能性磁共振成像可預測抑鬱症復發

  • 發佈時間:2015-10-09 01:30:46  來源:科技日報  作者:佚名  責任編輯:羅伯特

  新華社倫敦10月7日電 (記者張家偉)英國倫敦大學國王學院7日發佈研究成果説,利用功能性磁共振成像技術,醫護人員能更準確判斷康復中的重度抑鬱症患者中哪些人更易復發。

  來自倫敦大學國王學院和曼徹斯特大學的研究人員對64名患重度抑鬱症但症狀已緩解的病人實施功能性磁共振成像掃描,以研究他們腦部出現的變化。

  掃描後,研究人員對這些病人進行了持續14個月的跟蹤觀察,最終有27名病人抑鬱症復發。

  研究人員發現,從掃描結果看,復發的病人大腦中兩個部位,即前顳葉和膝下區的相互關聯性變得非常高,而症狀持續緩解的病人並沒有發現這種現象。

  為進一步驗證,研究人員讓另外一組39人接受了這種成像掃描。他們都沒有重度抑鬱症的個人和家族病史。結果顯示,他們大腦的這兩個部位也沒有出現較強的關聯性。

  據研究人員介紹,他們依照大腦的上述特徵就能判斷康復中的抑鬱症病人是否會復發,準確率能達到約75%。

  倫敦大學國王學院學者羅蘭·扎恩説,這一新方法還需要經過更多測試和改進,以便將準確率提高到80%。屆時,它就能真正用於臨床,從而填補目前尚無辦法準確預測抑鬱症復發幾率的空白。

  這項研究已發表在期刊《美國醫學會雜誌·精神病學卷》上。

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