中國網/中國發展門戶網訊  數字圖像感測器（CCD、CMOS）的像素規模和性能是影響天文、遙感等領域成像品質的核心。目前，圖像感測器晶片製造已趨近技術極限。中國科學院空天資訊創新研究院（空天院）張澤研究團隊首次提出了超採樣成像的概念，相關成果于近日發表在《鐳射與光子學評論》（Laser & Photonics Reviews）上。

圖為超採樣成像技術流程示意圖

什麼是超採樣成像？空天院團隊負責人、研究員張澤説，數字圖像感測器的工作原理本質上對光場進行採樣顯像的過程，類似于傳統的膠捲。根據奈奎斯特採樣定律，一個資訊光場週期至少需要兩個像素採樣才能不丟失資訊，因此圖像感測器的像素解析度是圖像顯示的細節極限。超採樣成像是突破像素解析度極限，利用少數像素感測器實現大規模像素顯像能力的技術。

自從數字圖像感測器取代膠捲以來，成像技術一直受感測器採樣極限的困擾。人類製造的數字圖像感測器（最小感光單元為像素）在像素尺寸、數量規模和響應均勻性上遠不及膠捲（最小感光單元為鹵化銀分子）。依據當前的製造水準，數字圖像感測器的像素解析度和成像品質難以大幅提升。超採樣成像技術繞過了晶片製造水準的限制，為突破像素解析度成像提供了一條魯棒性很強的技術途徑。“魯棒性指的是在面對內部結構或外部環境改變時，仍然能夠維持其功能穩定運作的能力。超採樣成像技術具備這樣的穩定性。”張澤介紹道。

在實現原理上，空天院科研團隊採用穩態鐳射技術掃描數字圖像感測器，通過穩態光場運算式和輸出圖像矩陣的關聯關係，精確求解出了圖像感測器像素內量子效率分佈。當使用相機拍攝動態目標，或者移動相機拍攝靜態場景時，利用獲取的像素內量子效率和像素細分演算法，即可以突破原始像素解析度，實現超採樣成像。據悉，穩態鐳射技術是由該團隊首創的鋒芒穩態鐳射技術演化而來，在原理上具有極穩定的光場形式。

超採樣成像技術目前可以把像素規模提高5×5倍，即利用1k×1k的晶片可以實現5k×5k像素解析度的成像。並且隨著標校精度的進一步提升，像素解析度還具有進一步的提升空間。張澤科普地介紹，打個比方，原有像素是一個方塊，通過我們的技術可以將像素分割，等效變成25個像素（方塊），對應著像素規模提升了25倍。

該項技術具有很大的應用發展潛力。以紅外圖像感測器為例，市場化的成像晶片解析度一般在2k×2k以下，3k×3k、4k×4k的成像晶片尚未有成熟的商用産品，而採用超採樣成像技術則可以利用2k×2k晶片實現8k×8k以上的像素解析度，這在光學遙感、安防等成像領域具有廣闊的應用前景。

目前，該技術已分別在室內、室外對無人機、建築、高鐵、月亮等目標進行了成像試驗，顯示了良好的技術魯棒性。

圖為部分超採樣成像效果對比圖及相應的定量評價，HSI為研究團隊實驗效果